簡   介

掃描式電子顯微鏡其基本構造如下：由電子槍 (Electron Gun) 發射電子束，經過一組磁透鏡聚焦 (Condenser Lens) 聚焦後，用遮蔽孔徑 (Condenser Aperture) 選擇電子束的尺寸(Beam Size)後，通過一組控制電子束的掃描線圈，再透過物鏡 (Objective Lens) 聚焦，打在試片上，在試片的上側裝有訊號接收器，用以擇取二次電子 (Secondary Electron) 或背向散射電子 (Backscattered Electron) 成像。由於其景深（Depth of Focus）大，對於研究物體之表面結構功效特別顯著。故近年來常用來觀測微小的生物、顆粒、花粉、化學物質等之表面結構，並能夠同時分析顯微區域之定性及定量成份分析。

儀器設備

廠牌及型別：JEOL JEM-5200

配件：鍍金機 (auto sputter coater)

服務項目

1. 標本鍍膜處理

2. 儀器上機教學指導

開放時間

週一至週五每日09:00~12:00、13:00~17:00 共 二個時段。

  使用須知

1.需使用者請於一週前(不含假日)向設備管理人員提出申請，待核准後方可上機使用。 

2.使用者必須參加電顯室所舉辦的講習，待通過考核後，方可自行操作使用。

3.本儀器之設定嚴禁擅自更改，若擅自更改設定及不當使用，致使設備發生異常事項，應負賠償責任並禁用。
4.請自行購買試劑及相關耗材，完成反應後，再上機。

5.敬請參閱「中國醫藥大學醫學系電子顯微鏡室之服務管理辦法」並確實遵守。

取樣

注意事項

1. 其標本大小以不超過座台為限。

2.標本需完全脫水。

管理人員

蔡孟宏老師 或 陳筱晴小姐 22053366-2118 or 2106 

放置位置

醫學大樓地下室 電子顯微鏡室

廠商資料

捷東股份有限公司 03-5734788

吳發源先生  03-5734788 or 0933937714

相關資訊

請參考SEM 簡易操作手冊