穿透式電子顯微鏡---Transmition Electron Microscope
簡 介
穿透式電子顯微鏡,是在真空系統下利用電子槍產生之電子束通過一晶体薄膜,產生不同之繞射圖形以決定晶格常數及晶体格子結構,是研究物質內部結構很有利之工具。近年來常用於作晶體結構、生物微細組織構造、化學成份和電子分佈情況分析。
儀器設備
廠牌及型別:JEOL JEM-1200EX II
服務項目
1.超薄切片技術提供
2. 負染色及超薄切片之觀察及照相
開放時間
週一至週五每日09:00~12:00、13:00~17:00 共 二個時段。
使用須知
1.需使用者請於一週前(不含假日)向設備管理人員提出申請,待核准後方可上機使用。
2.使用者必須參加電顯室所舉辦的講習,待通過考核後,方可自行操作使用。
3.本儀器之設定嚴禁擅自更改,若擅自更改設定及不當使用,致使設備發生異常事項,應負賠償責任並禁用。 4.請自行購買試劑及相關耗材,完成反應後,再上機。
5.敬請參閱「中國醫藥大學醫學系電子顯微鏡室之服務管理辦法」並確實遵守。
取樣
注意事項
1.標本的大小必須在3mm以下。 2. 基於電子束有限的穿透力,厚度需在500-1000埃之間
管理人員
蔡孟宏老師 或 陳筱晴小姐 22053366-2118 or 2106
放置位置
醫學大樓地下室 電子顯微鏡室
廠商資料
捷東股份有限公司 03-5734788
吳發源先生 03-5734788 or 0933937714
相關資訊
請參考TEM 簡易操作手冊
中國醫藥大學 研究發展處 貴重儀器組 台中市學士路91號 886-4-22053366 分機1503、1541