穿透式電子顯微鏡---Transmition Electron Microscope

 

簡   介

穿透式電子顯微鏡,是在真空系統下利用電子槍產生之電子束通過一晶体薄膜,產生不同之繞射圖形以決定晶格常數及晶体格子結構,是研究物質內部結構很有利之工具。近年來常用於作晶體結構、生物微細組織構造、化學成份和電子分佈情況分析。

  儀器設備

廠牌及型別:JEOL JEM-1200EX II

服務項目

1.超薄切片技術提供

2. 負染色及超薄切片之觀察及照相

開放時間

週一至週五每日09:00~12:0013:00~17:00 共 二個時段。

  使用須知

1.需使用者請於一週前(不含假日)設備管理人員提出申請,待核准後方可上機使用。 

2.使用者必須參加電顯室所舉辦的講習,待通過考核後,方可自行操作使用。

3.本儀器之設定嚴禁擅自更改,若擅自更改設定及不當使用,致使設備發生異常事項,應負賠償責任並禁用。
4.請自行購買試劑及相關耗材,完成反應後,再上機。

5.敬請參閱「中國醫藥大學醫學系電子顯微鏡室之服務管理辦法」並確實遵守

取樣

注意事項

1.標本的大小必須在3mm以下。
2.
基於電子束有限的穿透力,厚度需在500-1000埃之間

管理人員

蔡孟宏老師 陳筱晴小姐 22053366-2118 or 2106 

放置位置

醫學大樓地下室 電子顯微鏡室

廠商資料

捷東股份有限公司 03-5734788

吳發源先生 03-5734788 or 0933937714

相關資訊

請參考TEM 簡易操作手冊

 

 

中國醫藥大學 研究發展處 貴重儀器組 台中市學士路91號 886-4-22053366  分機1503、1541