掃描式離子電導顯微鏡介紹與應用
時間：99年1月14日(四)10:00-12:00
地點：立夫教學大樓 1樓 103講堂
講者：三典科技公司-專員

簡介(相關資料如附件)

掃描式離子電導顯微鏡高解析度：XY掃描:20nm；Z掃描:10nm或5nm
進行掃描時不需接觸樣本，可避免任何對樣本的傷害
樣本製備簡單，無需染色、包埋、切片等處理
可和倒立光學顯微鏡搭配或是獨立使用
可以和多種實驗技術結合使用包括Patch clamp、Surface confocal microscopy 、Scanning near-field optical microscopy